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三坐標測量機從接觸式到非接觸式的發展歷程
發布者:東莞市嘉騰儀器儀表有限公司 日期:2013年08月16日

    三坐標測量儀有接觸式和非接觸式兩種類型,非接觸式三坐標測量機是在接觸式三坐標測量機基礎上發展起來,現在我們來了解下他們的發展歷程。

    接觸式三坐標測量機,它是通過探針碰觸產品實現自動測量,它的優勢是可以自動測量,減少人為誤差,對于大尺寸的產品編程序并實現批量測量。但是問題是接觸式測量只能對面及柱、錐、球等幾何實體進行測量,而且探針在使用之前必須根據零件被測的特征大小進行選擇,校準后才能使用。 
    在接觸式三坐標的測量程序自動運行中,必須一點一點地碰觸,經歷趨近,碰點,回彈的過程,不僅耗時,而且必須具備安全空間才可以使用。探針的針徑最小直徑在0.3mm以內,在編程時就已經很困難了,而且探針容易發生碰撞的事故。那么薄壁、易變形的產品就更加不能碰觸了。 
    隨著精密和維細制造的數字化水平的發展,產品集成化大勢所趨,微小產品的快速高精度測量成為業界日益緊迫的任務。接觸式三坐標測量儀能夠實現自動測量已經無法完全滿足要求。 
    隨著光學、機械、電子等技術的發展和高度融合,三維光學測量儀器和多元傳感的三維光學測量儀器應運而生了。 
    三維光學測量儀器優異的影像識別能力使得全自動測量成為可能。批量的產品數百數據可以通過按一個按鈕實現自動測量和自動輸出結果,改變傳統的依靠經驗的手動測量方式,使自動測量的重復性控制在微米級,極大程度地提高檢測水平,促進制造品質的提高。
    從三坐標測量機的發展歷程得出這樣的結論,隨著現代工業的發展,在不久的將來,必然會出現比非接觸式三坐標測量機機更加先進的儀器。但絲毫不影響,非接觸式三坐標測量機在目前階段精密測量儀器行業中的至尊地位。