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離子遷移測試儀

離子遷移測試儀

應用領域:
● 機械加工及生產
● 電子產品生產
● 精密儀表制造
● 塑膠加工生產
● 數碼產品生產
● 軍工,航空等一切精密檢測

★ 離子遷移測試


離子遷移(CAF )測試是評價電子產品或元件的絕緣可靠性的一種測試方法,將樣品置于高溫高濕度的環境中,并在相鄰的兩個絕緣網絡之間施加一定的直流電壓(偏置電壓),在長時間的測試條件下,檢測兩個網絡之間是否有絕緣失效。


 

實踐證明,將測試樣品放置于高溫高濕的環境試驗箱中,并在線路板上焊接電纜線,施加偏置電壓,然后每隔一段時間,將PCB從環境試驗箱中取出,進行絕緣電阻測試,這種間斷式的測試方法,會漏過很多實際發生的離子遷移。


 

有效的離子遷移測試,需要將測試樣品放置于高溫高濕的環境試驗箱中,并在線路板上焊接電纜線,引出至環境試驗箱外的有關測試設備上,在線路板上施加促進離子遷移發生的偏置電壓和進行絕緣電阻測試,同時能實時檢測測試樣品上的泄漏電流。


★MIR 絕緣電阻測試系統主要用途:


 PCB基材,PCB,電容,連接器等元件的絕緣可靠性測試SMT助焊劑清洗工藝的評價電子絕緣材料,電纜及線材的絕緣老化性能評估





★MIR 絕緣電阻測試系統主要特點:

 

MIR絕緣電阻測試系統適應IPC, IEC,JPCA,ISO ,Bellcore等標準

 

每個Slot提供多達32個測試通道系統可提供32*nn=12...)不同數量通道

 

模塊化結構不僅易于擴展還易于進行故障定位和維修

 

采用高精度絕緣電阻儀作為核心儀表

 

系統集成試驗箱溫濕度測試

 

每個Slot的測試參數可以獨立設置 


可以檢測測試電纜開路或短路

 

可對絕緣電阻和漏電流的測量結果進行校正

 

偏置電壓極性可變換

 

可以設置絕緣電阻下降一定程度或低于一定值作為離子遷移發生的判斷條件


首創遷移次數和漏電次數設定

 

系統可以跳轉至絕緣電阻驗證測試


測試狀態和數據以表格曲線統計等多種界面呈現

 

每個通道的漏電流實時高速檢測防止錯過短暫和細小的遷移的發生


系統每一通道都獨立設置保護電路電阻以及轉換開關

 

專用PCB離子遷移測試夾具



     



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